京都グリーンラボ 公開講演会
京都グリーンラボ主催により公開講演会を開催します。講演者のDr. Lynne Gignacは、35年以上にわたり、IBMのワトソンリサーチセンターにおいて、電子顕微鏡を駆使した材料研究を通じ、ナノテクノロジーの材料、プロセスを評価し改善することに携わってこられました。この研究を通じて、集束イオンビーム (FIB) 技術を駆使した新しい顕微鏡サンプルの準備と分析技術を開発されました。本講演会では、その新しい透過型電子顕微鏡（TEM）のサンプル準備技術についてご講演いただきます。多くの方のご参加をお待ちしております。
- 開催日
- 2025年5月21日（水）16：30～17：30
- 場 所
- 京都工芸繊維大学 松ヶ崎キャンパス 3号館1階0312講義室
[会場へのアクセス] - 内 容
- 講演タイトル：
FIB TEM Semiconductor Sample Preparation Artifact Problems and Solutions
講演者：
Dr. Lynne Gignac, Research Staff Member, IBM-T.J. Watson Research Center - 参加費
- 無料
- 申し込み方法
- 京都グリーンラボ ホームページ（欧洲冠军联赛）
https://www.greenlab.kit.ac.jp/ - 問い合わせ先
- 京都グリーンラボ
E-mail：greenlab[at]kit.ac.jp（※[at]を@に変換してください。）